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      DE-19604375-A1August 14, 1997Martin Kuboschek, Jan OtterstedtEvaluation of test responses from digital integrated circuits
      DE-19604375-C2April 29, 1999Martin Kuboschek, Jan OtterstedtVerfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens